令和元年度(再試験) III-21

科目: 専門科目 / 分野: 情報工学部門 / 年度: 令和元年度(再試験)

III-21 問題画像

出典:公益社団法人 日本技術士会「技術士第一次試験 過去問題」

開発中のソフトウェアの信頼性を評価するために、ソフトウェアの残存不具合数の予測を行いたいとき、その方法として最も不適切なものを選ぶ問題。FMEAは故障モード影響解析で、残存不具合数の予測手法ではない。

解説

この問題で問われていること

ソフトウェア信頼度成長モデルなどの残存不具合数の予測手法と、それ以外の手法を区別する問題。

解き方

① 残存不具合数の予測: 信頼度成長曲線(ロジスティック曲線・指数型・遅延S字型)に当てはめる、既知の不具合を埋め込んで発見率から推定する(探針テスト)。FMEA=故障の影響を分析する手法
② FMEAだけが不具合数の予測手法ではない
③ ③

正解が正しい理由

残存不具合数の予測には、テスト工程で検出された不具合数の累積を、ロジスティック曲線、指数型分布モデル、遅延S字型モデルなどの信頼度成長曲線(モデル)に当てはめる方法や、意図的に不具合を埋め込んで、その発見率から推定する探針テスト(エラー埋込み法)などがある。FMEA(故障モード影響解析)は、システムや部品の故障モードを洗い出して、その影響を分析する手法で、残存不具合数を予測する方法ではない。したがって③が最も不適切である。

各選択肢について

覚えるべきポイント

残存不具合数の推定: 信頼度成長曲線(指数型、遅延S字型、ロジスティック曲線など)、エラー埋込み法(探針テスト)、バグ検出数の収束傾向分析。FMEAは信頼性設計の分析手法。

キーワード: 残存不具合数、信頼度成長曲線、ロジスティック曲線、指数型分布モデル、遅延S字型モデル、FMEA、探針テスト、情報工学部門

出題履歴

同じ問題が計2回出題されています(平成27年度、令和元年度(再試験))。